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Speckle metrology / Robert K. Erf (1978)

Public ISBD Titre : Speckle metrology Type de document : texte imprimé Auteurs : Robert K. Erf, Auteur Editeur : London ; New York ; Orlando ; San Diego : Academic Press Année de publication : 1978 Collection : Quantum electronics. Principles and applications : a series of monographs Importance : xiv, 331 p. Présentation : ill Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-241360-5 Note générale : ISBN : 0-12-241360-1 PPN 018613306 Langues : Anglais (eng) Tags : Granularité (optique)  Interférométrie par granularité  Speckle metrology Index. décimale : 620.004 4 Ingénierie et activités connexes - Tests et mesures Note de contenu : Bibliogr. et index Speckle metrology [texte imprimé] / Robert K. Erf, Auteur . - London ; New York ; Orlando ; San Diego : Academic Press, 1978 . - xiv, 331 p. : ill ; 24 cm. - (Quantum electronics. Principles and applications : a series of monographs) . ISBN : 978-0-12-241360-5 ISBN : 0-12-241360-1 PPN 018613306 Langues : Anglais (eng) Tags : Granularité (optique)  Interférométrie par granularité  Speckle metrology Index. décimale : 620.004 4 Ingénierie et activités connexes - Tests et mesures Note de contenu : Bibliogr. et index

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité	Nom du donateur
OCA-VV-000710	B6-710	Ouvrages / Books	OCA Bib. Lagrange Nice Valrose	VV-B6/B7-Optique de Fourier	Disponible

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