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Auteur Michelle J. Creech-Eakman |
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Optical and infrared interferometry IV, [1]. Part one of two parts / Jayadev K. Rajagopal (2014)
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Nom du donateur OCA-NI-009415 009415 Ouvrages / Books OCA Bib. Nice Mont-Gros NI-Salle de lecture-Ouvrages Disponible Optical and infrared interferometry IV, [2]. Part two of two parts / Jayadev K. Rajagopal (2014)
Titre de série : Optical and infrared interferometry IV, [2] Titre : Part two of two parts : 23 - 24 June 2014, Montréal, Canada Type de document : texte imprimé Auteurs : Jayadev K. Rajagopal, Editeur scientifique ; Michelle J. Creech-Eakman, Editeur scientifique ; Fabien Malbet, Editeur scientifique ; Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), Editeur scientifique ; American Astronomical Society (AAS), Editeur scientifique Editeur : Bellingham, Wa : SPIE Optical Engineering Press Année de publication : 2014 Collection : Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, ISSN 0277-786X num. 9146 Importance : 1 vol. (pag. mult) Format : 28 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-8194-9614-0 Note générale : En 2 vol. (Part one et Part two)
PPN 193658380Langues : Anglais (eng) Tags : Interféromètrie -- Congrès Imagerie infrarouge -- Congrès Interferometry -- Congresses Infrared imaging -- Congresses VLTI [Very Large Telescope Interferometer] MATISSE [Multi AperTure mid-Infrared SpectroScopic Experiment] Index. décimale : 522.6 Méthodes particulières d'observation (photométrie, spectroscopie, radioastronomie) Optical and infrared interferometry IV, [2]. Part two of two parts : 23 - 24 June 2014, Montréal, Canada [texte imprimé] / Jayadev K. Rajagopal, Editeur scientifique ; Michelle J. Creech-Eakman, Editeur scientifique ; Fabien Malbet, Editeur scientifique ; Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), Editeur scientifique ; American Astronomical Society (AAS), Editeur scientifique . - Bellingham, Wa : SPIE Optical Engineering Press, 2014 . - 1 vol. (pag. mult) ; 28 cm. - (Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, ISSN 0277-786X; 9146) .
ISBN : 978-0-8194-9614-0
En 2 vol. (Part one et Part two)
PPN 193658380
Langues : Anglais (eng)
Tags : Interféromètrie -- Congrès Imagerie infrarouge -- Congrès Interferometry -- Congresses Infrared imaging -- Congresses VLTI [Very Large Telescope Interferometer] MATISSE [Multi AperTure mid-Infrared SpectroScopic Experiment] Index. décimale : 522.6 Méthodes particulières d'observation (photométrie, spectroscopie, radioastronomie) Réservation
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