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Auteur Owen Williams Richardson |
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Titre : Applications of interferometry Type de document : texte imprimé Auteurs : William Ewart Williams, Auteur ; Owen Williams Richardson, Préfacier, etc. Mention d'édition : 4th edition Editeur : London : Methuen Année de publication : 1950 Autre Editeur : Hoboken, NJ ; New York ; London ; Sydney ; Chichester : John Wiley Collection : Methuen's monographs on physical subjects Importance : viii, 104 p. Présentation : diagrs. Format : 18 cm ISBN/ISSN/EAN : PPN 015922596 Langues : Anglais (eng) Tags : Interférométrie Interféromètre Interferometry Interferometers Index. décimale : 535.470 287 Interférence - Tests et mesures (Interférométrie) Applications of interferometry [texte imprimé] / William Ewart Williams, Auteur ; Owen Williams Richardson, Préfacier, etc. . - 4th edition . - London : Methuen : Hoboken, NJ ; New York ; London ; Sydney ; Chichester : John Wiley, 1950 . - viii, 104 p. : diagrs. ; 18 cm. - (Methuen's monographs on physical subjects) .
ISSN : PPN 015922596
Langues : Anglais (eng)
Tags : Interférométrie Interféromètre Interferometry Interferometers Index. décimale : 535.470 287 Interférence - Tests et mesures (Interférométrie) Réservation
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