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Titre : Manuel d'optique [2e éd.] Type de document : texte imprimé Auteurs : Germain Chartier, Auteur Mention d'édition : 2 edition Editeur : Paris ; Londres ; Lausanne : Hermes Année de publication : 2020 Importance : 1 vol. (655 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-4905-9 Note générale : PPN 249649314 Langues : Français (fre) Tags : Optique -- Manuels d'enseignement supérieur Matériaux optiques Ondes électromagnétiques Optique géométrique Réfraction Polarisation (lumière) Biréfringence Interférences Diffraction Laser Optique non linéaire Effet Raman Brillouin, Effet Lumière -- Diffusion Fibres optiques Résonateurs lasers Optics -- Textbooks Optical materials Electromagnetic waves Geometrical optics Polarization (light) Refraction, Double Raman effect Brillouin scattering Light -- Scattering Fiber optics Lasers Lasers -- Resonators Index. décimale : 535.07 Lumière visible (optique) et phénomènes de l'infrarouge et de l'ultraviolet. Etude et enseignement, recherche et sujets connexes Résumé : La 4ème de couverture indique : paru initialement en 1997, le Manuel d'optique a contribué à la formation de nombreux opticiens au cours des deux dernières décennies et a été utilisé par de nombreux enseignants pour la rédaction de leurs cours. Son originalité pédagogique lui a valu l'attribution du Prix Arnulf Françon 1997. A la suite de la découverte des lasers et des fibres optiques, l'optique a subi de profondes mutations qui ont accentué son caractère pluridisciplinaire. Cet ouvrage fait le point sur les connaissances actuelles, fournit et ordonne les notions indispensables à la compréhension de l'optique moderne et de ses nombreuses applications..." Note de contenu : Sommaire (abrégé) : 1. Grandeurs et ordre de grandeur de l'optique (p.1). - 2. Ondes électromagnétiques (p.55) - 3. Optique géométrique (p.87) - 4. Lumière polarisée - Lois de la réflexion (p.166). - 5. Biréfringence (p.200) - 6. Interférences (p.282) - 7. Diffraction (p.346). - 8. Indice de réfraction (p.408). - 9. Laser (p.444) - 10. Optique non linéaire (p.528). - 11. Diffusions Raman-Brillouin-Rayleigh (p.565). - 12. Optique guidée (p.604) - Index (p.648-655) Manuel d'optique [2e éd.] [texte imprimé] / Germain Chartier, Auteur . - 2 edition . - Paris ; Londres ; Lausanne : Hermes, 2020 . - 1 vol. (655 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-7462-4905-9
PPN 249649314
Langues : Français (fre)
Tags : Optique -- Manuels d'enseignement supérieur Matériaux optiques Ondes électromagnétiques Optique géométrique Réfraction Polarisation (lumière) Biréfringence Interférences Diffraction Laser Optique non linéaire Effet Raman Brillouin, Effet Lumière -- Diffusion Fibres optiques Résonateurs lasers Optics -- Textbooks Optical materials Electromagnetic waves Geometrical optics Polarization (light) Refraction, Double Raman effect Brillouin scattering Light -- Scattering Fiber optics Lasers Lasers -- Resonators Index. décimale : 535.07 Lumière visible (optique) et phénomènes de l'infrarouge et de l'ultraviolet. Etude et enseignement, recherche et sujets connexes Résumé : La 4ème de couverture indique : paru initialement en 1997, le Manuel d'optique a contribué à la formation de nombreux opticiens au cours des deux dernières décennies et a été utilisé par de nombreux enseignants pour la rédaction de leurs cours. Son originalité pédagogique lui a valu l'attribution du Prix Arnulf Françon 1997. A la suite de la découverte des lasers et des fibres optiques, l'optique a subi de profondes mutations qui ont accentué son caractère pluridisciplinaire. Cet ouvrage fait le point sur les connaissances actuelles, fournit et ordonne les notions indispensables à la compréhension de l'optique moderne et de ses nombreuses applications..." Note de contenu : Sommaire (abrégé) : 1. Grandeurs et ordre de grandeur de l'optique (p.1). - 2. Ondes électromagnétiques (p.55) - 3. Optique géométrique (p.87) - 4. Lumière polarisée - Lois de la réflexion (p.166). - 5. Biréfringence (p.200) - 6. Interférences (p.282) - 7. Diffraction (p.346). - 8. Indice de réfraction (p.408). - 9. Laser (p.444) - 10. Optique non linéaire (p.528). - 11. Diffusions Raman-Brillouin-Rayleigh (p.565). - 12. Optique guidée (p.604) - Index (p.648-655) Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Nom du donateur OCA-NI-009914 009914 Ouvrages / Books OCA Bib. Nice Mont-Gros NI-Salle de lecture-Ouvrages Disponible
Titre : Absorption and scattering of light by small particles Type de document : texte imprimé Auteurs : Craig F. Bohren, Auteur ; Donald R. Huffman, Auteur Editeur : Hoboken, NJ ; New York ; London ; Sydney ; Chichester : John Wiley Année de publication : 1998 Collection : Wiley science paperback series Importance : XIV-530 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-29340-8 Note générale : ISBN : 0-471-29340-7 . - PPN 046121013 Langues : Anglais (eng) Tags : Lumière -- Absorption Lumière -- Diffusion Aérosols Aerosols -- Optical properties Light absorption Light -- Scattering Index. décimale : 535.3 Transmission, absorption, émission de la lumière Absorption and scattering of light by small particles [texte imprimé] / Craig F. Bohren, Auteur ; Donald R. Huffman, Auteur . - Hoboken, NJ ; New York ; London ; Sydney ; Chichester : John Wiley, 1998 . - XIV-530 p. : ill. ; 24 cm. - (Wiley science paperback series) .
ISBN : 978-0-471-29340-8
ISBN : 0-471-29340-7 . - PPN 046121013
Langues : Anglais (eng)
Tags : Lumière -- Absorption Lumière -- Diffusion Aérosols Aerosols -- Optical properties Light absorption Light -- Scattering Index. décimale : 535.3 Transmission, absorption, émission de la lumière Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Nom du donateur OCA-VV-001765 C2-1765 Ouvrages / Books OCA Bib. Lagrange Nice Valrose VV-C2-Optique : Spectroscopie Disponible Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Nom du donateur OCA-NI-000489 000489 Ouvrages / Books OCA Bib. Nice Mont-Gros NI-Salle de lecture-Ouvrages Sorti jusqu'au 15/12/2011 Light scattering by small particles [1981, c1957] / Hendrik Christoffel van de Hulst (1981, cop. 1957)
Titre : Light scattering by small particles [1981, c1957] Type de document : texte imprimé Auteurs : Hendrik Christoffel van de Hulst (1918-2000) , Auteur
Editeur : New York : Dover Publications Année de publication : 1981, cop. 1957 Importance : 1 vol. (470 p.) Présentation : ill., couv. ill. en coul. Format : 22 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-486-64228-4 Note générale : Première éd. : New York : J. Wiley & Sons, 1957. - Autre tirage : 2014. - ISBN : 0-486-64228-3
PPN 008490805Langues : Anglais (eng) Tags : Diffusion (physique) Ondes électromagnétiques -- Diffusion Lumière -- Diffusion Scattering (Physics) Electromagnetic waves -- Scattering Light -- Scattering Index. décimale : 535.43 Diffusion Note de contenu : Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index Light scattering by small particles [1981, c1957] [texte imprimé] / Hendrik Christoffel van de Hulst (1918-2000)
ISBN : 978-0-486-64228-4
Première éd. : New York : J. Wiley & Sons, 1957. - Autre tirage : 2014. - ISBN : 0-486-64228-3
PPN 008490805
Langues : Anglais (eng)
Tags : Diffusion (physique) Ondes électromagnétiques -- Diffusion Lumière -- Diffusion Scattering (Physics) Electromagnetic waves -- Scattering Light -- Scattering Index. décimale : 535.43 Diffusion Note de contenu : Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité Nom du donateur OCA-NI-003055 003055 Ouvrages / Books OCA Bib. Nice Mont-Gros NI-Salle de lecture-Ouvrages Disponible
Titre : Optical scattering [3rd ed.] : measurement and analysis Type de document : texte imprimé Auteurs : John C. Stover, Auteur Mention d'édition : Third edition Editeur : Bellingham, Wash. : SPIE Press Année de publication : cop. 2012 Importance : 1 vol. (XXIV-307 p.) Présentation : ill, couv ill. en coul. Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-62841-840-8 Note générale : Soft cover printing 2015.- PPN 237370344 Langues : Anglais (eng) Tags : Lumière -- Diffusion Light -- Scattering Index. décimale : 535.43 Diffusion Résumé : The first edition of this book concentrated on relating scatter from optically smooth surfaces to the microroughness on those surfaces. After spending six years in the semiconductor industry, Dr. Stover has updated and expanded the third edition. Newly included are scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. Scatter measurements, now routinely used to determine whether small-surface features are pits or particles and inspiring new technology that provides information on particle material, are also discussed. These new capabilities are now supported by a series of international standards, and a new chapter reviews those documents. New information on scatter from optically rough surfaces has also been added. Once the critical limit is exceeded, scatter cannot be used to determine surface-roughness statistics, but considerable information can still be obtained - especially when measurements are made on mass-produced products. Changes in measurement are covered, and the reader will find examples of scatter measurements made using a camera for a fraction of the cost and in a fraction of the time previously possible. The idea of relating scatter to surface appearance is also discussed, and appearance has its own short chapter. After all, beauty is in the eye of the beholder, and what we see is scattered light. (SPIE press) Note de contenu : Sommaire (abrégé) : Preface to the 1st ed. (xiii) - Preface to the 2nd ed. (xv) - Preface to the 3rd ed. (xix) - List of Acronyms (xxiii) - Chap. 1 Quantifying light scatter (p.1) - Chap. 2 Quantifying surface roughness (p.23) - Chap.3 Scatter calculations and diffraction theory (p.47)- Chap. 4 Using Rayleigh-Rice to calculate Smooth-Surface statistics from the BRDF (p.69) - Chap. 5 Polarization of scattered light (p.91) - Chap.6 Scattering models for discrete surface features (p.109) - Chap. 7 Instrumentation and measurement issues (p.115) - Chap. 8 Predicting scatter from roughness (p.157) - Chap. 9 Detection of discrete defects (p.185) - Chap. 10 Appearance and scattered light (p.201) - Chap.11 Industrial applications (p.209) - Chap.12 Published scatter standards (p.229) - Chap.13 Scatter specifications (p.239) - Appendix A. Review of electromagnetic wave propagation (p.257) - Appendix B. Kirchhoff diffraction from sinusoidal gratings (p.265) - Appendix C. BSDF data (p.273)- Appendix D. Units (p.281) - References (p.283) - Works consulted (p.297) - Index (p.303) Optical scattering [3rd ed.] : measurement and analysis [texte imprimé] / John C. Stover, Auteur . - Third edition . - Bellingham, Wash. : SPIE Press, cop. 2012 . - 1 vol. (XXIV-307 p.) : ill, couv ill. en coul. ; 26 cm.
ISBN : 978-1-62841-840-8
Soft cover printing 2015.- PPN 237370344
Langues : Anglais (eng)
Tags : Lumière -- Diffusion Light -- Scattering Index. décimale : 535.43 Diffusion Résumé : The first edition of this book concentrated on relating scatter from optically smooth surfaces to the microroughness on those surfaces. After spending six years in the semiconductor industry, Dr. Stover has updated and expanded the third edition. Newly included are scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. Scatter measurements, now routinely used to determine whether small-surface features are pits or particles and inspiring new technology that provides information on particle material, are also discussed. These new capabilities are now supported by a series of international standards, and a new chapter reviews those documents. New information on scatter from optically rough surfaces has also been added. Once the critical limit is exceeded, scatter cannot be used to determine surface-roughness statistics, but considerable information can still be obtained - especially when measurements are made on mass-produced products. Changes in measurement are covered, and the reader will find examples of scatter measurements made using a camera for a fraction of the cost and in a fraction of the time previously possible. The idea of relating scatter to surface appearance is also discussed, and appearance has its own short chapter. After all, beauty is in the eye of the beholder, and what we see is scattered light. (SPIE press) Note de contenu : Sommaire (abrégé) : Preface to the 1st ed. (xiii) - Preface to the 2nd ed. (xv) - Preface to the 3rd ed. (xix) - List of Acronyms (xxiii) - Chap. 1 Quantifying light scatter (p.1) - Chap. 2 Quantifying surface roughness (p.23) - Chap.3 Scatter calculations and diffraction theory (p.47)- Chap. 4 Using Rayleigh-Rice to calculate Smooth-Surface statistics from the BRDF (p.69) - Chap. 5 Polarization of scattered light (p.91) - Chap.6 Scattering models for discrete surface features (p.109) - Chap. 7 Instrumentation and measurement issues (p.115) - Chap. 8 Predicting scatter from roughness (p.157) - Chap. 9 Detection of discrete defects (p.185) - Chap. 10 Appearance and scattered light (p.201) - Chap.11 Industrial applications (p.209) - Chap.12 Published scatter standards (p.229) - Chap.13 Scatter specifications (p.239) - Appendix A. Review of electromagnetic wave propagation (p.257) - Appendix B. Kirchhoff diffraction from sinusoidal gratings (p.265) - Appendix C. BSDF data (p.273)- Appendix D. Units (p.281) - References (p.283) - Works consulted (p.297) - Index (p.303) Réservation
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